Товаров: 0  |   На сумму: 0 руб
0
ОБОРУДОВАНИЕ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЙ, КОНТРОЛЯ И ИСПЫТАНИЙ
г. Москва, 4-й проезд Подбельского, д. 3, стр. 2
Пн. - Пт. с 9-00 до 18-00
+7 (495) 988-79-77

info@geo-ndt.ru
КАТАЛОГ ОБОРУДОВАНИЯ

Рентгенофлуоресцентный спектрометр FISCHERSCOPE X-RAY серии XUV

  • Рентгенофлуоресцентный спектрометр FISCHERSCOPE X-RAY серии XUV

    /images/all/3/15226/big/img_5.jpg

    jijijij

    Рентгенофлуоресцентный спектрометр FISCHERSCOPE X-RAY серии XUV

ЦЕНА: по запросу

КУПИТЬ
ПРОИЗВОДИТЕЛЬ:
Fischer


Страна производитель: Германия Германия

Гарантия: 1 год
Версия для печати
Просьба уточнять актуальность цены у менеджеров. Стоимость указана с учетом НДС. Оплата производится по безналичному расчету.

Внимание! Счета выставляются при сумме заказа от 3000 руб. Мы работаем как с юридическими, так и с физическими лицами.

Осуществляем доставку по России, Казахстану, Беларуси и странам таможенного союза курьерскими службами и транспортными компаниями.

Ярцев Олег
Менеджер по направлению Fischer
Здравствуйте! Меня зовут Ярцев Олег.
Я готов ответить на Ваши вопросы по данным товарам. Если Вы хотите оформить заказ или задать вопрос, то можете связаться со мной по телефону или электронной почте.

Телефон: +7 (495) 988-79-77 доб. 132

Моб.: +7 (926) 610-24-16

E-mail: oleg@geo-ndt.ru

Рентгенофлуоресцентный анализатор МетЭксперт

Описание рентгенофлуоресцентного спектрометра серии XUV: 

Вакуумная измерительная камера приборов серии XUV® позволяет осуществлять проверку легких материалов из натрия и подобных материалов посредством рентгенофлуоресцентного анализа (RFA). В обычных условиях этот метод использовать невозможно, поскольку воздух помещения может поглощать излучаемую радиацию. По этой причине данный прибор является оптимальным решением для ответственных задач исследования толщины покрытий и анализа материалов.

 

Характеристики прибора: 

  • Благодаря высокой чувствительности, высокой степени повторяемости и универсальности измерительных средств приборы этой серии могут применяться в научно-исследовательской сфере
  • Приборы оборудованы вакуумной камерой и высокоэффективным дрейфовым кремниевых детектором для повышения точности измерений, в том числе легких элементов
  • Приборы позволяют проводить автоматизированное серийное испытание с применением программируемых осей X, Y и Z
  • Благодаря возможности применения разных диафрагм и фильтров, приборы можно адаптировать в зависимости от требований разных материалов и условий измерения

 

Применение: 

Измерение толщины покрытия

  • Исследование легких материалов из натрия и подобных материалов в нанометровом диапазоне
  • Исследование алюминиевых и кремниевых слоев

 

Анализ материалов: 

  • Определение подлинности и истории происхождения и владения драгоценных камней
  • Общий анализ материалов и экспертиза
  • Анализ следов (микропримесей) с высоким разрешением
Введите число *


Введите число *

ПОХОЖИЕ ТОВАРЫ

Рентгенофлуоресцентный спектрометр FISCHERSCOPE X-RAY серии XUV

Описание рентгенофлуоресцентного спектрометра серии XUV: 

Вакуумная измерительная камера приборов серии XUV® позволяет осуществлять проверку легких материалов из натрия и подобных материалов посредством рентгенофлуоресцентного анализа (RFA). В обычных условиях этот метод использовать невозможно, поскольку воздух помещения может поглощать излучаемую радиацию. По этой причине данный прибор является оптимальным решением для ответственных задач исследования толщины покрытий и анализа материалов.

 

Характеристики прибора: 

  • Благодаря высокой чувствительности, высокой степени повторяемости и универсальности измерительных средств приборы этой серии могут применяться в научно-исследовательской сфере
  • Приборы оборудованы вакуумной камерой и высокоэффективным дрейфовым кремниевых детектором для повышения точности измерений, в том числе легких элементов
  • Приборы позволяют проводить автоматизированное серийное испытание с применением программируемых осей X, Y и Z
  • Благодаря возможности применения разных диафрагм и фильтров, приборы можно адаптировать в зависимости от требований разных материалов и условий измерения

 

Применение: 

Измерение толщины покрытия

  • Исследование легких материалов из натрия и подобных материалов в нанометровом диапазоне
  • Исследование алюминиевых и кремниевых слоев

 

Анализ материалов: 

  • Определение подлинности и истории происхождения и владения драгоценных камней
  • Общий анализ материалов и экспертиза
  • Анализ следов (микропримесей) с высоким разрешением
0 RUB
Цены носят справочный характер и не являются публичной офертой, определяемой положениями п. 2 ст. 437 ГК РФ.
Технические характеристики (спецификация) оборудования, внешний вид и комплект поставки могут быть изменены производителем без предварительного уведомления.
Во избежание недоразумений просьба уточнять у специалистов отдела продаж. © 2023