Просьба уточнять актуальность цены у менеджеров. Стоимость указана с учетом НДС. Оплата производится по безналичному расчету.
Внимание! Счета выставляются при сумме заказа от 3000 руб. Мы работаем как с юридическими, так и с физическими лицами.
Осуществляем доставку по России, Казахстану, Беларуси и странам таможенного союза курьерскими службами и транспортными компаниями.
Менеджер по направлению Fischer Здравствуйте! Меня зовут Ярцев Олег.
Я готов ответить на Ваши вопросы по данным товарам. Если Вы хотите оформить заказ или задать вопрос, то можете связаться со мной по телефону или электронной почте.
Описание рентгенофлуоресцентного спектрометра серии XUV:
Вакуумная измерительная камера приборов серии XUV® позволяет осуществлять проверку легких материалов из натрия и подобных материалов посредством рентгенофлуоресцентного анализа (RFA). В обычных условиях этот метод использовать невозможно, поскольку воздух помещения может поглощать излучаемую радиацию. По этой причине данный прибор является оптимальным решением для ответственных задач исследования толщины покрытий и анализа материалов.
Характеристики прибора:
Благодаря высокой чувствительности, высокой степени повторяемости и универсальности измерительных средств приборы этой серии могут применяться в научно-исследовательской сфере
Приборы оборудованы вакуумной камерой и высокоэффективным дрейфовым кремниевых детектором для повышения точности измерений, в том числе легких элементов
Приборы позволяют проводить автоматизированное серийное испытание с применением программируемых осей X, Y и Z
Благодаря возможности применения разных диафрагм и фильтров, приборы можно адаптировать в зависимости от требований разных материалов и условий измерения
Применение:
Измерение толщины покрытия
Исследование легких материалов из натрия и подобных материалов в нанометровом диапазоне
Исследование алюминиевых и кремниевых слоев
Анализ материалов:
Определение подлинности и истории происхождения и владения драгоценных камней
Общий анализ материалов и экспертиза
Анализ следов (микропримесей) с высоким разрешением
Рентгенофлуоресцентный спектрометр FISCHERSCOPE X-RAY серии XUV
Описание рентгенофлуоресцентного спектрометра серии XUV:
Вакуумная измерительная камера приборов серии XUV® позволяет осуществлять проверку легких материалов из натрия и подобных материалов посредством рентгенофлуоресцентного анализа (RFA). В обычных условиях этот метод использовать невозможно, поскольку воздух помещения может поглощать излучаемую радиацию. По этой причине данный прибор является оптимальным решением для ответственных задач исследования толщины покрытий и анализа материалов.
Характеристики прибора:
Благодаря высокой чувствительности, высокой степени повторяемости и универсальности измерительных средств приборы этой серии могут применяться в научно-исследовательской сфере
Приборы оборудованы вакуумной камерой и высокоэффективным дрейфовым кремниевых детектором для повышения точности измерений, в том числе легких элементов
Приборы позволяют проводить автоматизированное серийное испытание с применением программируемых осей X, Y и Z
Благодаря возможности применения разных диафрагм и фильтров, приборы можно адаптировать в зависимости от требований разных материалов и условий измерения
Применение:
Измерение толщины покрытия
Исследование легких материалов из натрия и подобных материалов в нанометровом диапазоне
Исследование алюминиевых и кремниевых слоев
Анализ материалов:
Определение подлинности и истории происхождения и владения драгоценных камней
Общий анализ материалов и экспертиза
Анализ следов (микропримесей) с высоким разрешением
