Просьба уточнять актуальность цены у менеджеров. Стоимость указана с учетом НДС. Оплата производится по безналичному расчету.
Внимание! Счета выставляются при сумме заказа от 3000 руб. Мы работаем как с юридическими, так и с физическими лицами.
Осуществляем доставку по России, Казахстану, Беларуси и странам таможенного союза курьерскими службами и транспортными компаниями.
Менеджер по направлению Fischer Здравствуйте! Меня зовут Ярцев Олег.
Я готов ответить на Ваши вопросы по данным товарам. Если Вы хотите оформить заказ или задать вопрос, то можете связаться со мной по телефону или электронной почте.
Описание толщиномера и анализатора покрытий XDV-SDD:
Прибор серии XDV-SDD является одним из самых мощных рентгенофлуоресцентных устройств в линейке продуктов компании Fischer. Эти измерительные приборы оборудованы сравнительно крупными дрейфовыми кремниевыми детекторами (SDD). Окно детектора площадью 50 мм2 позволяет быстро и точно выполнять анализ даже мелких измерительных точек. Кроме того, устройства могут оснащаться различными диафрагмами и фильтрами для создания оптимальных условий возбуждения в зависимости от конкретной измерительной задачи.
Характеристики прибора:
Высокомощные рентгеновские трубки и дрейфовые кремниевые детекторы (SDD) большой полезной площади для точных и безошибочных измерений толщины даже самых тонких покрытий.
Чрезвычайно прочная конструкция для последовательных испытаний, обеспечивающая исключительную долговременную устойчивость.
Программируемый XY-координатный столик и ось Z для автоматических последовательных испытаний.
Синхронное видеоизображение и лазерный указатель для простого и быстрого позиционирования образца.
Применение:
Измерение толщины покрытий
Исследование сверхтонких покрытий, например, слоев золота и палладия толщиной ≤0,1 мкм для электроники и полупроводников.
Измерение толщины твердых покрытий в автомобилестроении.
Обнаружение нежелательных веществ (например, тяжелых металлов) в электронных устройствах, упаковочных материалах и потребительских товарах в соответствии с требованиями RoHS, WEEE, CPSIA и других нормативных документов.
Анализ золота и других драгоценных металлов, а также их сплавов.
Определение состава функциональных покрытий, например, определение содержания фосфора в покрытии NiP.
Технические характеристики:
Рентгеновский источник
микрофокусная трубка с вольфрамовой мишенью и бериллиевым окном
Напряжение
10 кВ, 30 кВ, 50 кВ
Апертура (коллиматор)
4 сменных: Ø 0,2 мм; Ø 0,6 мм; Ø 1 мм; Ø 3 мм
Первичный фильтр
6 сменных: Ni, Al 1000 мкм, Al 500 мкм, Al 100 мкм, Mylar 100 мкм, без фильтра
Область измерения
мин. Ø 0,25 мм; размер пятна измерения ≈ размер апертуры + 10%; зависит от расстояния измерения и диафрагмы; фактический размер пятна измерения показывается на видеоизображении
Рентгеновский детектор
кремниевый дрейфовый детектор, эффективная область 50 мм2
Разрешение
≤ 140 эВ
Расстояние до образца
0 – 80 мм
Область размещения образца
370×320 мм
Максимальная масса образца
5 кг / 20 кг
Максимальная высота образца
140 мм
Исполнение
программируемая XY-регулировка опоры
Перемещение опоры по оси XY
250×250 мм
Скорость перемещения опоры
60 мм/сек
Перемещение опоры по оси Z
140 мм
Лазерная указка
есть
Масштабирование
1x, 2x, 3x, 4x
Видеомикроскоп
цветная CCD камера с высоким разрешением для оптического мониторинга положения измерения вдоль оси первичного луча, ручная фокусировка и автофокус, перекрестье с калиброванной шкалой (линейка) и индикатор пятна, регулируемая светодиодная подсветка, лазерная указка (класс 1) для точного размещения образцов
Фокусировка
автофокус, ручная настройка фокальной плоскости в диапазоне от 0 до 80 мм
Программное обеспечение
стандартно: Fischer WinFTM BASIC включая PDM; опционально: Fischer WinFTM SUPER
Питание
адаптер переменного тока AC 115 или 230 В; частота 50/60 Гц; потребляемая мощность макс. 120 Вт
Толщиномер и анализатор покрытий FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
Описание толщиномера и анализатора покрытий XDV-SDD:
Прибор серии XDV-SDD является одним из самых мощных рентгенофлуоресцентных устройств в линейке продуктов компании Fischer. Эти измерительные приборы оборудованы сравнительно крупными дрейфовыми кремниевыми детекторами (SDD). Окно детектора площадью 50 мм2 позволяет быстро и точно выполнять анализ даже мелких измерительных точек. Кроме того, устройства могут оснащаться различными диафрагмами и фильтрами для создания оптимальных условий возбуждения в зависимости от конкретной измерительной задачи.
Характеристики прибора:
Высокомощные рентгеновские трубки и дрейфовые кремниевые детекторы (SDD) большой полезной площади для точных и безошибочных измерений толщины даже самых тонких покрытий.
Чрезвычайно прочная конструкция для последовательных испытаний, обеспечивающая исключительную долговременную устойчивость.
Программируемый XY-координатный столик и ось Z для автоматических последовательных испытаний.
Синхронное видеоизображение и лазерный указатель для простого и быстрого позиционирования образца.
Применение:
Измерение толщины покрытий
Исследование сверхтонких покрытий, например, слоев золота и палладия толщиной ≤0,1 мкм для электроники и полупроводников.
Измерение толщины твердых покрытий в автомобилестроении.
Обнаружение нежелательных веществ (например, тяжелых металлов) в электронных устройствах, упаковочных материалах и потребительских товарах в соответствии с требованиями RoHS, WEEE, CPSIA и других нормативных документов.
Анализ золота и других драгоценных металлов, а также их сплавов.
Определение состава функциональных покрытий, например, определение содержания фосфора в покрытии NiP.
Технические характеристики:
Рентгеновский источник
микрофокусная трубка с вольфрамовой мишенью и бериллиевым окном
Напряжение
10 кВ, 30 кВ, 50 кВ
Апертура (коллиматор)
4 сменных: Ø 0,2 мм; Ø 0,6 мм; Ø 1 мм; Ø 3 мм
Первичный фильтр
6 сменных: Ni, Al 1000 мкм, Al 500 мкм, Al 100 мкм, Mylar 100 мкм, без фильтра
Область измерения
мин. Ø 0,25 мм; размер пятна измерения ≈ размер апертуры + 10%; зависит от расстояния измерения и диафрагмы; фактический размер пятна измерения показывается на видеоизображении
Рентгеновский детектор
кремниевый дрейфовый детектор, эффективная область 50 мм2
Разрешение
≤ 140 эВ
Расстояние до образца
0 – 80 мм
Область размещения образца
370×320 мм
Максимальная масса образца
5 кг / 20 кг
Максимальная высота образца
140 мм
Исполнение
программируемая XY-регулировка опоры
Перемещение опоры по оси XY
250×250 мм
Скорость перемещения опоры
60 мм/сек
Перемещение опоры по оси Z
140 мм
Лазерная указка
есть
Масштабирование
1x, 2x, 3x, 4x
Видеомикроскоп
цветная CCD камера с высоким разрешением для оптического мониторинга положения измерения вдоль оси первичного луча, ручная фокусировка и автофокус, перекрестье с калиброванной шкалой (линейка) и индикатор пятна, регулируемая светодиодная подсветка, лазерная указка (класс 1) для точного размещения образцов
Фокусировка
автофокус, ручная настройка фокальной плоскости в диапазоне от 0 до 80 мм
Программное обеспечение
стандартно: Fischer WinFTM BASIC включая PDM; опционально: Fischer WinFTM SUPER
Питание
адаптер переменного тока AC 115 или 230 В; частота 50/60 Гц; потребляемая мощность макс. 120 Вт
