|
Расширился модельный ряд измерителей RLC Актаком.
Представляем новинку – портативный цифровой RLC-метр Актаком АМ-3128.
Прибор оснащен 2,8” двустрочным дисплеем на котором в верхней строке отображаются первичные параметры с 4 ½ разрядностью, а на нижней строке – вторичные.
В качестве первичных измеряемых параметров АМ-3128 измеряет и отображает:
R – активное электрическое сопротивление;
Z – модуль полного сопротивления;
L – индуктивность;
C – электрическая емкость.
Диапазоны измерения:
| Индуктивность |
100 Гц/120 Гц |
4 мГн/.../1000 Гн |
| 1 кГц |
400 мкГн/.../100 Гн |
| 10/40 кГц |
40 мкГн/.../1 Гн |
| 100 кГц |
4 мкГн/.../4 мГн |
| Емкость |
100 Гц/120 Гц |
4 нФ/.../20 мФ |
| 1 кГц |
400 пФ/.../1000 мкФ |
| 10/40 кГц |
40 пФ/.../100 мкФ |
| 100 кГц |
4 пФ/.../10 мкФ |
Активное сопротивление
Модуль полного импеданса |
100 Гц /120 Гц/1 кГц/10 кГц/40 кГц/100 кГц |
0,4 Ом/.../20 МОм |
Вторичными параметрами являются:
D – тангенс угла диэлектрических потерь;
Q – добротность;
Θ – угол фазового сдвига.
Новый LCR метр Актаком АМ-3128 может проводить измерение на тестовых частотах 100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 10 кГц, 40 кГц, 100 кГц.
Для различных измерительных задач уровень испытательного сигнала может быть задан равным 0,3 Вскз или 0,6 Вскз.
Среди остальных возможностей АМ-3128 можно выделить наличие следующих функций:
- Выбор эквивалентной схемы измерения: последовательная, параллельная
- Задание времени измерения: 1 раз/сек (SLOW), 2 раза/сек (MEDIUM), 4 раза/сек (FAST)
- Выбор схемы измерения: 2-проводная, 4-проводная
- Наличие возможности открытой и короткозамкнутой калибровки для повышения точности измерения
- Настраиваемый компаратор
- Режим относительных измерений
- Фиксация текущего, минимального, максимального и среднего значения
Новый прибор может применяться в следующих областях:
- выборочный контроль качества на производственной линии;
- входной контроль при приёмке партии;
- тестирование компонентов в ремонтных мастерских и сервисных службах;
- сортировка и отбор компонентов по параметрам;
- лабораторные исследования параметров при разработке и тестировании.
Назад
| 
